Seminari sobre proves i mesures en microelectrònica de la càtedra CHIP UPC

Ens complau convidar-vos a assistir al seminari gratuït sobre proves i mesures en microelectrònica, organitzat conjuntament per dataTec Instruments, la Càtedra CHIP UPC i la Universitat Politècnica de Catalunya (UPC), que tindrà lloc el dimecres 29 d’abril de 2026, en format en línia i presencial a l’Edifici A3 - Campus Nord UPC.

Aquest esdeveniment està dirigit a professionals que treballen en semiconductors, caracterització de dispositius i validació, i se centrarà especialment en aplicacions pràctiques en el camp. També és d'interès per a professorat i estudiantat de grau i màster.  

El seminari inclourà:

• Demostracions en directe de sistemes de mesura a nivell de wafer
• Contribucions de fabricants líders com MPI Corporation, Tektronix i EMC Barcelona
• Presentacions d’especialistes en instrumentació que compartiran experiència real i metodologies aplicades

Es tracta d’una sessió altament pràctica dissenyada per oferir coneixements valuosos sobre els reptes actuals i les solucions en l’àmbit de les proves en microelectrònica.

Cal inscripció prèvia a https://lnkd.in/efWY5BVq